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TrackProbe跟踪式光笔测量系统

TrackProbe跟踪式光笔测量系统,由手持测量光笔i-Probe和新一代光学跟踪器i-Tracker组成,专为计量级精度测量量身打造。整个系统凭借其高精度、高便携性和高易用性的特点,能轻松应对大范围、远距离及复杂严苛环境的测量需求。

面对生产车间现场,从夹具调装到基准划线测量、从小型零部件到大型工件如工程机械结构件尺寸检测,TrackProbe跟踪式光笔测量系统都能随时随地、无所拘束地开展高精度三维测量。


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基本参数

TrackProbe 跟踪式硬测系统

型号

i-Probe 500

体积精度(1)

10.4 m³(距离跟踪器3.5 m)

0.049 mm

28.6 m³(距离跟踪器5.0 m)

0.067 mm

49.0 m³(距离跟踪器6.0 m)

0.089 mm

测量距离(单站)

最远10m

测量物体尺寸范围(建议)

0.1-12 mm

单个跟踪相机像素

2500万像素

光笔尺寸

510*145*89mm

光笔重量

700g

工作温度

0-45°C

工作湿度(非冷凝)

10-90% RH

连接方式

有线,无线

标记点数量

16

专利证书

CN201520680513.1,CN202210065778.5,CN202221475584.4,CN202221766958.8



TrackProbe跟踪式光笔测量系统

 广泛可扩展的测量范围

搭配具有超远可视范围的跟踪器i-Tracker,i-Probe测量光笔标准工作距离为6m,单站最远测量距离可至10m,实现大型项目一站式高精度三维测量。


性能强大 精密计量

凭借高精度的光学传感器技术和算法性能,能够精确地探测和测量被测对象的几何特征及形位公差。测量范围在49.0m³范围内,体积精度可达0.089mm;28.6m³范围内,体积精度可达0.067mm;10.4m³范围内,体积精度可达0.049mm。


TrackProbe跟踪式光笔测量系统


适用行业

APPLICABLE INDUSTRY

客户案例

CASE